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Forschung

Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopie

VT-AFM

Wir benutzen die sogenannten Rastersondenmethoden (AFM, STM) um lokale Informationen von der Oberfläche zu erhalten. Der Schwerpunkt liegt dabei auf der Rasterkraftmikroskopie, die auch Messungen an nicht-leitenden Oberflächen ermöglicht. Aktuell untersuchen wir Molekulare Magnete und bestrahlte Oberflächen. Darüber hinaus wird im Rahmen eines SFB-Projektes eine besondere AFM-Technik, die Wirbelstrommikroskopie zur kontaktlosen Messung der Leitfähigkeit in kleinen metallischen Strukturen, eingesetzt.

Wechselwirkung von Ionen mit Oberflächen

nanohügel

Beim Beschuss einer Oberfläche mit Ionen kommt es zu einer Vielzahl von Effekten. Wir interessieren uns insbesondere für die Ausbildung von Nanometer-Hügeln, die auf Isolatoroberflächen entstehen, wenn man schnelle, schwere Ionen verwendet. Im Rahmen eines SFB-Projektes untersuchen wir die Wechselwirkung hochgeladener Ionen mit Metalloberflächen. Mit Hilfe von Metall-Isolator-Detektoren wollen wir die Dissipation der potentiellen Energie des Projektils charakterisieren.

Unsere Ausstattung
Liste wissenschaftlicher Veröffentlichungen
Bericht der Pressestelle der Universität
http://www.bulletins-electroniques.com/actualites/55460.htm